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X-射线荧光镀层厚度测试仪XDVM-u
新型号的FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-µ是一款可靠的采用X-射线荧光方法和独特的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。
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天瑞仪器 金属镀层的厚度测量 X荧光镀层测厚仪 Thick 800A
Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。
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X荧光镀层测厚仪 X射线荧光测厚天瑞仪器 电镀行业综合
天瑞仪器X荧光镀层测厚仪 Thick 800A可用于测定废气、废水、废渣,适用于分析电镀产生的废气、废水、废渣项目。并且参考多项行业标准RoHS 2.0指令。可应用于高分子材料行业领域
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XDVM-W X-射线荧光镀层厚度测试仪
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X荧光镀层测厚仪
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X荧光镀层测厚仪 Thick 600
。 Think600镀层测厚仪使用高效而实用的正比计数盒和电制冷探测器,以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求,且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计,使仪器操作更人性化、更方便
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X荧光镀层测厚仪 X射线荧光测厚Thick 800A 适用于分析电镀产生的废气、废水、废渣
天瑞仪器X射线荧光测厚Thick 800A可用于测定废气、废水、废渣,适用于分析电镀产生的废气、废水、废渣项目。并且参考多项行业标准RoHS 2.0指令。可应用于高分子材料行业领域
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X-射线荧光镀层厚度测试仪XDVM-u
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X荧光镀层测厚仪 Thick 800A
Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。
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赛默飞波长色散X射线荧光光谱仪ARL Optim’X Thermofisher X射线荧光光谱仪介绍
和数据处理提供了强有力的支持。技术参数:分析元素:F~U含量范围:ppm~100% 端窗型X光管,铍窗厚度75mm,50W的功率激发相当于200W 光谱室真空恒温控制,晶体有独立的温控系统,确保分析的
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